设备测试系统
公开
摘要
本公开提供了一种设备测试系统,本公开涉及设备测的领域,具体涉及一种设备测试系统,该系统包括待测设备和至少一个测试治具,待测设备包括处理器和至少一个待测模块;每个测试治具与对应的待测模块电连接以形成一个测试单元,处理器与每个测试单元中的测试治具和/或待测模块电连接;处理器用于向测试单元的测试治具和/或待测模块发送测试信号,基于测试治具和/或待测模块针对测试信号的反馈情况生成测试结果信息。上述系统可以预先为每个待测模块配置对应的测试治具,以待测设备自身的处理器来自动执行针对各待测模块的测试流程,实现了待测设备的自动化测试过程,显著地提高了测试效率。
基本信息
专利标题 :
设备测试系统
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN114578099A
申请号 :
CN202210203706.2
公开(公告)日 :
2022-06-03
申请日 :
2022-03-02
授权号 :
暂无
授权日 :
暂无
发明人 :
朱金平
申请人 :
北京百度网讯科技有限公司
申请人地址 :
北京市海淀区上地十街10号百度大厦2层
代理机构 :
北京市通商律师事务所
代理人 :
姜莹丽
优先权 :
CN202210203706.2
主分类号 :
G01R1/04
IPC分类号 :
G01R1/04 G01R31/00
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01R
测量电变量;测量磁变量
G01R1/00
包括在G01R5/00至G01R13/00或G01R31/00组中的各类仪器或装置的零部件
G01R1/02
一般结构零部件
G01R1/04
外壳;支承构件;端子装置
法律状态
2022-06-03 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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