一种基于环芯光纤光斑的熔接偏移量的检测方法
公开
摘要
本发明属于光纤传感技术领域，更具体地，涉及一种基于环芯光纤光斑的熔接偏移量的检测方法。利用环芯光纤稳定、形态结构区分度高的光纤光斑，对在不同错位熔接偏移量下采集到的光斑进行高精度卷积神经网络的光斑识别训练，打破了现有的仅利用少模光纤高阶模式的背向瑞利散射对光纤熔接损耗的测量的局限，实现了对熔接过程中光纤偏移量的测量，提高了熔接质量检测的准确度。
基本信息
专利标题 ：
一种基于环芯光纤光斑的熔接偏移量的检测方法
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN114565595A
申请号 ：
CN202210211105.6
公开（公告）日 ：
2022-05-31
申请日 ：
2022-03-03
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
刘洁黄聪唐钢
申请人 ：
中山大学
申请人地址 ：
广东省广州市海珠区新港西路135号
代理机构 ：
广州粤高专利商标代理有限公司
代理人 ：
王晓玲
优先权 ：
CN202210211105.6
主分类号 ：
G06T7/00
IPC分类号 ：
G06T7/00 G06T5/50 G06N3/04 G06N3/08 G01M11/00
IPC结构图谱
G
G部——物理
G06
计算；推算或计数
G06T
一般的图像数据处理或产生
G06T7/00
图像分析
法律状态
2022-05-31 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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