存储器检测方法、电路、装置、设备及存储介质
公开
摘要
本公开提供了一种存储器检测方法、电路、装置、设备及存储介质。存储器检测方法包括：将测试数据写入存储器的至少部分存储单元中；打开与存储单元连接的字线；将偶数个输入输出引脚对应的2N个存储单元作为一个压缩组，读取压缩组中每个存储单元中存储的目标数据，其中，N为正整数；根据预设处理方法对压缩组对应的目标数据进行运算，确定压缩组的检测信息；根据检测信息，确定压缩组中的存储单元是否存在缺陷。采用本公开的存储器检测方法，可以快速测试出存储器的存储单元是否存在缺陷，节省了大量的检测时间，提高了测试效率，节省测试成本。
基本信息
专利标题 ：
存储器检测方法、电路、装置、设备及存储介质
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN114582411A
申请号 ：
CN202210212388.6
公开（公告）日 ：
2022-06-03
申请日 ：
2022-03-01
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
陆天辰
申请人 ：
长鑫存储技术有限公司
申请人地址 ：
安徽省合肥市经济技术开发区空港工业园兴业大道388号
代理机构 ：
北京名华博信知识产权代理有限公司
代理人 ：
苗源
优先权 ：
CN202210212388.6
主分类号 ：
G11C29/00
IPC分类号 ：
G11C29/00 G11C29/40
IPC结构图谱
G
G部——物理
G11
信息存储
G11C
静态存储器
G11C29/00
存储器正确运行的校验；备用或离线操作期间测试存储器
法律状态
2022-06-03 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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