滤波器辅助调试方法、调试装置、存储介质
公开
摘要
本发明公开了一种滤波器辅助调试方法、调试装置、存储介质，涉及滤波器调试技术领域，所述方法包括：确定待调谐振螺钉，并获取所述待调谐振螺钉的第一深度偏差；获取与所述待调谐振螺钉相邻的第一待调耦合螺钉的第二深度偏差；获取所述待调谐振螺钉对应的第一比值；根据所述第一比值、所述第二深度偏差，得到第一偏差变化值；根据所述第一偏差变化值、所述第一深度偏差确定所述待调谐振螺钉的第一待调深度偏差，以根据所述第一待调深度偏差将所述待调谐振螺钉调至所述第一预期深度。本发明能够提高滤波器辅助调试效率。
基本信息
专利标题 ：
滤波器辅助调试方法、调试装置、存储介质
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN114597623A
申请号 ：
CN202210225147.5
公开（公告）日 ：
2022-06-07
申请日 ：
2022-03-07
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
丁一李雷闻家毅周鑫宇李绍辉欧新菊
申请人 ：
东莞亿安软件有限公司
申请人地址 ：
广东省东莞市松山湖园区学府路1号7栋204室
代理机构 ：
广州嘉权专利商标事务所有限公司
代理人 ：
陈春芹
优先权 ：
CN202210225147.5
主分类号 ：
H01P11/00
IPC分类号 ：
H01P11/00 H01P1/20
法律状态
2022-06-07 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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