光纤端面检测方法及装置
公开
摘要

本公开涉及一种光纤端面检测方法,通过至少一个透镜对来自光纤端面的入射光汇聚,使光纤端面在像面成像;基于所述像面的成像获取光纤端面的图像信息,基于所述图像信息测量光纤参数;其中,在所述至少一个透镜形成的像方焦面阻挡部分光线,使光路中物方主光线的交点位置趋于无限远。本公开同时涉及一种光纤端面测量装置。上述方法或装置,通过在焦平面对光线进行部分阻挡,具备物方远心光学系统的特性。对光纤端面的成像不随距离变化而受影响,可以准确地得到端面的形状和尺寸。还具有边缘清晰的优点,可以准确锁定边缘,得到纤芯的参数。其优选使用了超透镜,还具有体积小的优势,可实现方便快速的测量,同时具备低成本的优点。

基本信息
专利标题 :
光纤端面检测方法及装置
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN114593689A
申请号 :
CN202210227629.4
公开(公告)日 :
2022-06-07
申请日 :
2022-03-08
授权号 :
暂无
授权日 :
暂无
发明人 :
谭凤泽郝成龙朱健
申请人 :
深圳迈塔兰斯科技有限公司
申请人地址 :
广东省深圳市宝安区新安街道上合社区33区大宝路83号美生慧谷科技园秋谷8栋6楼
代理机构 :
深圳市深佳知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人 :
陈彦如
优先权 :
CN202210227629.4
主分类号 :
G01B11/24
IPC分类号 :
G01B11/24  G01B11/00  G02B3/02  G02B5/00  G02B13/22  G02B27/00  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01B
长度、厚度或类似线性尺寸的计量;角度的计量;面积的计量;不规则的表面或轮廓的计量
G01B11/00
以采用光学方法为特征的计量设备
G01B11/24
用于计量轮廓或曲率
法律状态
2022-06-07 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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