一种双波长同轴四步相移数字全息的对应相位还原方法
公开
摘要

本发明涉及图像处理技术领域,尤其涉及一种双波长同轴四步相移数字全息的对应相位还原方法,包括基于四幅具有正负2π特定相移的双波长同轴相移全息图,利用相移技术和减法运算,结合三角函数特性,可先提取出第二个波长的相位信息;然后对全息图进行傅里叶正变换、滤频、傅里叶逆变换,直接提取出直流项后,即可还原出第一个波长的相位信息;最后通过每个波长的包裹相位图相减,在一定尺度范围内,可求解出等效波长相位图,进而求解出相位物体的微观形貌或厚度。本发明能充分利用CCD的空间带宽,增加相位成像的稳定性和精确性;基于四幅双波长同轴相移全息图,能够提高相位还原处理效率。

基本信息
专利标题 :
一种双波长同轴四步相移数字全息的对应相位还原方法
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN114577124A
申请号 :
CN202210229886.1
公开(公告)日 :
2022-06-03
申请日 :
2022-03-09
授权号 :
暂无
授权日 :
暂无
发明人 :
陈吉丽徐小青王霆唐礼浩倪语丹刘浩琦王洁王利群
申请人 :
常州机电职业技术学院
申请人地址 :
江苏省常州市武进区湖塘镇鸣新中路26号
代理机构 :
常州市英诺创信专利代理事务所(普通合伙)
代理人 :
杨闯
优先权 :
CN202210229886.1
主分类号 :
G01B11/06
IPC分类号 :
G01B11/06  G01B11/24  G06T5/10  G06T5/20  G06T5/50  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01B
长度、厚度或类似线性尺寸的计量;角度的计量;面积的计量;不规则的表面或轮廓的计量
G01B11/00
以采用光学方法为特征的计量设备
G01B11/02
用于计量长度、宽度或厚度
G01B11/06
用于计量厚度
法律状态
2022-06-03 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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