一种激光定位式液晶模组检测方法及辅助检测装置
公开
摘要
本发明提供一种激光定位式液晶模组检测方法及辅助检测装置，检测方法包括：步骤一、将被检测的液晶模组放置在一种具有直角的辅助检测装置的底板的直角角落里，抵在辅助检测装置两边的挡墙上；步骤二、用两个夹具从两个垂直方向顶住被检测的液晶模组的两个边缘点；步骤三、用两个激光测距传感器分别对准被测液晶模组背光源的两个小直边，当两个激光测距传感器显示读数相等时候，则证明被测液晶模组摆正；步骤四、被测液晶模组摆正后，用二次元检测设备对被检测的液晶模组进行检测。能够解决测量时圆形模组产品检测时摆放不正，进而测量不准的问题。
基本信息
专利标题 ：
一种激光定位式液晶模组检测方法及辅助检测装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN114608443A
申请号 ：
CN202210236426.1
公开（公告）日 ：
2022-06-10
申请日 ：
2022-03-10
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
侯旭陈绍军
申请人 ：
亚世光电（集团）股份有限公司
申请人地址 ：
辽宁省鞍山市立山区越岭路288号
代理机构 ：
鞍山嘉讯科技专利事务所(普通合伙)
代理人 ：
张群
优先权 ：
CN202210236426.1
主分类号 ：
G01B11/00
IPC分类号 ：
G01B11/00 B25B11/00 B25B11/02 G02F1/13
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01B
长度、厚度或类似线性尺寸的计量；角度的计量；面积的计量；不规则的表面或轮廓的计量
G01B11/00
以采用光学方法为特征的计量设备
法律状态
2022-06-10 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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