高低温环境电磁兼容综合试验系统
公开
摘要
本发明公开高低温环境电磁兼容综合试验系统，该系统包括：电波暗室、电磁测试装置、系统控制器以及设置于电波暗室内的至少一组环境模拟装置，环境模拟装置具有用于放置待测试设备的密封腔，密封腔内的温度能够调节。本发明在电波暗室内设置环境模拟装置，将待测试设备放置于温度能进行调控的环境模拟装置内，并采用电磁测试装置测试待测试设备进行EMC测试。本发明采用在电波暗室内设置环境模拟装置的方式进行高低温测试，不破坏原有的电波暗室，不会降低电波暗室的使用寿命和原有的测试可行性。采用本发明的高低温环境电磁兼容综合试验系统对上述设备在高低温环境下进行EMC测试，更全面的对设备的抗干扰性能进行试验。
基本信息
专利标题 ：
高低温环境电磁兼容综合试验系统
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN114578169A
申请号 ：
CN202210236871.8
公开（公告）日 ：
2022-06-03
申请日 ：
2022-03-10
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
胡醇胡德霖杨支峰沈惊喜丁卫营潘晓军陈仁治钱永江
申请人 ：
苏州电器科学研究院股份有限公司
申请人地址 ：
江苏省苏州市吴中区越溪前珠路5号
代理机构 ：
苏州华博知识产权代理有限公司
代理人 ：
黄丽莉
优先权 ：
CN202210236871.8
主分类号 ：
G01R31/00
IPC分类号 ：
G01R31/00
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R31/00
电性能的测试装置；电故障的探测装置；以所进行的测试在其他位置未提供为特征的电测试装置；在制造过程中测试或测量半导体或固体器件入H01L21/66；线路传输系统的测试入H04B3/46）
法律状态
2022-06-03 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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