一种银波导氢气浓度探测装置
公开
摘要
本发明涉及氢气探测技术领域，具体涉及一种银波导氢气浓度探测装置，包括：第一贵金属部、透明介质部、第二贵金属部、贵金属突出部、钯膜，透明介质部置于第一贵金属部上，介质部的长度小于第一贵金属部的长度，第二贵金属部置于透明介质部上，第二贵金属部的端面与透明介质部的端面齐平，贵金属突出部固定在第二贵金属部的端面上，贵金属突出部悬空设置在第一贵金属部的上侧，钯膜设置在贵金属突出部上。在待测环境中，钯膜吸附氢气后，改变了金属‑介质‑金属波导端部的反射特性，通过测量金属‑介质‑金属波导端部反射特性变化，实现氢气浓度探测。本发明具有氢气浓度探测灵敏度高的优点，在氢气浓度探测领域具有良好的应用前景。
基本信息
专利标题 ：
一种银波导氢气浓度探测装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN114624211A
申请号 ：
CN202210251002.2
公开（公告）日 ：
2022-06-14
申请日 ：
2022-03-15
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
牛艳娜
申请人 ：
陕西咖润特光电科技有限公司
申请人地址 ：
陕西省西安市西咸新区沣东新城征和四路2168号自贸产业园4号楼2层5609室
代理机构 ：
代理人 ：
优先权 ：
CN202210251002.2
主分类号 ：
G01N21/55
IPC分类号 ：
G01N21/55
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N21/00
利用光学手段，即利用亚毫米波、红外光、可见光或紫外光来测试或分析材料
G01N21/17
入射光根据所测试的材料性质而改变的系统
G01N21/55
镜面反射率
法律状态
2022-06-14 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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