用于抛物面共形头罩动态像差校正的固定校正器及设计方法
公开
摘要
用于抛物面共形头罩动态像差校正的固定校正器设计方法，包括以下步骤：建立外表面为抛物面或其他复杂表面的共形头罩光学系统，分析其动态Zernike像差，确立基于Zernike系数的优化原则并初步优化共形头罩内表面；推导抛物面共形头罩的Wassermann‑Wolf方程并简化其实现形式，建模并求解固定校正器的初始面型，确定初始面型是否满足对于0°视场像差的校正，如果满足，在共形系统中代入初始面型；否则，重新确定合理参数求解初始面型，直至满足校正设计要求；并在扫描视场进行动态视场下的分布迭代像差校正优化设计，确定能够有效校正抛物面共形头罩动态像差的固定校正器最终结构。本发明具有系统结构简单、像差校正效果优越、适应复杂共形头罩外表面面型。
基本信息
专利标题 ：
用于抛物面共形头罩动态像差校正的固定校正器及设计方法
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN114578552A
申请号 ：
CN202210258041.5
公开（公告）日 ：
2022-06-03
申请日 ：
2022-03-16
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
刘智颖余浩然黄蕴涵秦齐
申请人 ：
长春理工大学
申请人地址 ：
吉林省长春市朝阳区卫星路7186号
代理机构 ：
北京中理通专利代理事务所(普通合伙)
代理人 ：
刘慧宇
优先权 ：
CN202210258041.5
主分类号 ：
G02B27/00
IPC分类号 ：
G02B27/00
IPC结构图谱
G
G部——物理
G02
光学
G02B
光学元件、系统或仪器附注
G02B27/00
不能分入G02B 1/00-G02B 26/00,G02B 30/00的其它光学系统或其它光学仪器
法律状态
2022-06-03 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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