一种基于光子晶体的气体富集脱附检测装置及检测方法
公开
摘要
本发明公开了一种基于光子晶体的气体富集脱附检测装置及检测方法，所述装置包括：光子晶体检测膜；活性炭层，置于所述光子晶体检测膜下方并与之形成检测空间；脱附模块，置于所述活性炭层下方，用于使得所述活性炭层吸附的气体脱附至所述检测空间；控制器，连接所述脱附模块，控制所述脱附模块定时启动。本发明能够富集低浓度气体再脱附至光子晶体检测膜，通过观察光子晶体检测膜表面颜色变化来判断空间内危险性气体的存在，解决了低浓度气体不易检测的问题，提高了安全性。
基本信息
专利标题 ：
一种基于光子晶体的气体富集脱附检测装置及检测方法
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN114609086A
申请号 ：
CN202210260989.4
公开（公告）日 ：
2022-06-10
申请日 ：
2022-03-16
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
张懿强郑世容宋延林
申请人 ：
苏州中科纳福材料科技有限公司
申请人地址 ：
江苏省苏州市苏州工业园区新平街388号腾飞科技园一号楼一楼
代理机构 ：
上海塔科专利代理事务所(普通合伙)
代理人 ：
薛伟娟
优先权 ：
CN202210260989.4
主分类号 ：
G01N21/41
IPC分类号 ：
G01N21/41 G01N21/29 G01N21/01 G01N1/40
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N21/00
利用光学手段，即利用亚毫米波、红外光、可见光或紫外光来测试或分析材料
G01N21/17
入射光根据所测试的材料性质而改变的系统
G01N21/41
折射率；影响相位的性质，例如光程长度
法律状态
2022-06-10 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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