一种晶体半成品外观缺陷选别装置
公开
摘要
本发明公开了一种晶体半成品外观缺陷选别装置，包括：底座、侧边相机、载盘和翻转轴，底座顶部外侧设有门型支架，所述门型支架上半部两侧内壁设有侧边相机，所述门型支架顶部内壁中央设有顶部相机，所述底座顶部中央设有载盘，所述载盘顶部两侧设有电动滑轨，所述电动滑轨顶部设有滑座，所述滑座顶部之间设有翻转轴，本发明通过伺服电机带动翻转轴转动，带动晶片、连接杆以及吸盘同步转动，通过电动滑轨带动滑座向侧边相机一侧移动，通过侧边相机对晶片底面进行视觉检测，检测完成，通过一次装夹进行晶片顶面和底面的检测，检测效率较高的同时，减少了晶片在装夹过程中的损伤。
基本信息
专利标题 ：
一种晶体半成品外观缺陷选别装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN114609156A
申请号 ：
CN202210277875.0
公开（公告）日 ：
2022-06-10
申请日 ：
2022-03-21
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
黄彩颖黄显林
申请人 ：
深圳思博睿智能装备有限公司
申请人地址 ：
广东省深圳市龙华区大浪街道同胜社区南江工业园厂房2号3层
代理机构 ：
东莞市卓易专利代理事务所(普通合伙)
代理人 ：
戈蓉
优先权 ：
CN202210277875.0
主分类号 ：
G01N21/95
IPC分类号 ：
G01N21/95 G01N21/01 G01N21/84
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N21/00
利用光学手段，即利用亚毫米波、红外光、可见光或紫外光来测试或分析材料
G01N21/84
专用于特殊应用的系统
G01N21/88
测试瑕疵、缺陷或污点的存在
G01N21/95
特征在于待测物品的材料或形状
法律状态
2022-06-10 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
文件下载
暂无PDF文件可下载
