全链路接口测试方法、装置、电子设备及存储介质
公开
摘要

本发明实施例公开了一种全链路接口测试方法、装置、电子设备及存储介质。所述方法包括:确定业务测试所采用的目标业务测试用例,确定目标业务测试用例中关联配置的至少一个目标业务基础组件以及调用至少一个目标业务基础组件执行对应的应用程序接口服务,将每个目标业务基础组件的执行结果进行汇集得到业务测试执行结果,通过建立统一的三级测试用例领域模型,能够按照模型中指示的业务基础组件以及基础组件下的业务原子单元之间的依赖关系自动在各个接口进行测试,解决了上下游接口之间测试孤立,数据流转不顺畅所导致的难以支持各接口进行联合测试的问题,实现了在复杂场景下支持进行业务链路较长的多个接口的自动测试,提高了接口测试效率。

基本信息
专利标题 :
全链路接口测试方法、装置、电子设备及存储介质
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN114579469A
申请号 :
CN202210282227.4
公开(公告)日 :
2022-06-03
申请日 :
2022-03-21
授权号 :
暂无
授权日 :
暂无
发明人 :
匡仁锦李志军樊华锋黄晓东
申请人 :
康键信息技术(深圳)有限公司
申请人地址 :
广东省深圳市前海深港合作区前湾一路1号楼A栋201室(入驻深圳市前海商务秘书有限公司)
代理机构 :
北京品源专利代理有限公司
代理人 :
李彩玲
优先权 :
CN202210282227.4
主分类号 :
G06F11/36
IPC分类号 :
G06F11/36  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G06
计算;推算或计数
G06F
电数字数据处理
G06F11/00
错误检测;错误校正;监控
G06F11/36
通过软件的测试或调试防止错误
法律状态
2022-06-03 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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