分布式系统的测试评估方法、装置、电子设备及存储介质
公开
摘要

本公开提供了一种分布式系统的测试评估方法、装置、电子设备及存储介质,可以应用于分布式系统技术领域、金融领域或其他领域。该方法包括:获取待评估区域的分布式系统的至少一个物理分区;根据至少一个物理分区针对目标区域的M个节点服务器进行逻辑划区,生成至少一个逻辑分区,物理分区与逻辑分区相关联,每个逻辑分区包含至少一个预设测试参数,M为大于1的整数;根据至少一个预设测试参数向至少一个逻辑分区注入测试数据,生成至少一个测试结果;将至少一个测试结果输入评估模型,获取待评估区域的分布式系统的评估结果,评估结果包括运行正常和运行异常。

基本信息
专利标题 :
分布式系统的测试评估方法、装置、电子设备及存储介质
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN114610642A
申请号 :
CN202210292054.4
公开(公告)日 :
2022-06-10
申请日 :
2022-03-23
授权号 :
暂无
授权日 :
暂无
发明人 :
陈壮壮钟瑞郑重高汉
申请人 :
中国工商银行股份有限公司
申请人地址 :
北京市西城区复兴门内大街55号
代理机构 :
中科专利商标代理有限责任公司
代理人 :
张琛
优先权 :
CN202210292054.4
主分类号 :
G06F11/36
IPC分类号 :
G06F11/36  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G06
计算;推算或计数
G06F
电数字数据处理
G06F11/00
错误检测;错误校正;监控
G06F11/36
通过软件的测试或调试防止错误
法律状态
2022-06-10 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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