一种微粒光散射谱分析装置及其应用方法
实质审查的生效
摘要

本发明公开一种微粒光散射谱分析装置及其应用方法。该装置通过双光束光镊系统形成捕获光阱实现对微粒的快速稳定捕获,利用在捕获光的垂轴方向放置散射光收集系统和光谱仪,实现光悬浮微粒侧向散射光的收集和利用。本发明还提供了一种利用该装置搭建的双光束光镊系统进行微粒光散射谱分析的方法,通过集成的光谱处理系统最大化利用收集的侧向散射光,精度和灵敏度与传统技术相比有很大提高。避免了分光引起的散射光浪费,可捕获微粒尺寸范围更大,且需要的捕获光强减弱,避免由于微粒吸热过多引起物性变化导致的测量错误,为微纳尺寸微粒的精密测量提供了方法与手段。

基本信息
专利标题 :
一种微粒光散射谱分析装置及其应用方法
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN114414552A
申请号 :
CN202210310174.2
公开(公告)日 :
2022-04-29
申请日 :
2022-03-28
授权号 :
暂无
授权日 :
暂无
发明人 :
马园园李翠红章逸舟陈志明傅振海胡慧珠
申请人 :
之江实验室;浙江大学
申请人地址 :
浙江省杭州市余杭区文一西路1818号中国人工智能小镇10号楼
代理机构 :
杭州求是专利事务所有限公司
代理人 :
林松海
优先权 :
CN202210310174.2
主分类号 :
G01N21/65
IPC分类号 :
G01N21/65  G01N33/569  G01N33/546  G01N33/543  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N21/00
利用光学手段,即利用亚毫米波、红外光、可见光或紫外光来测试或分析材料
G01N21/62
所测试的材料在其中被激发,因之引起材料发光或入射光的波长发生变化的系统
G01N21/63
光学激发的
G01N21/65
喇曼散射
法律状态
2022-05-20 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01N 21/65
申请日 : 20220328
2022-04-29 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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