本申请公开了一种芯片安全启动检测方法、装置、设备及介质，涉及集成电路设计及应用领域，包括：利用待检测芯片的CPU将待检测芯片中安全启动电路的执行功能置为开启状态，并通过安全启动电路检测待检测芯片的安全启动功能是否正常；若否则将待检测芯片外部预设的安全外部引脚置为高电平，并对待检测芯片进行修复处理，以得到修复处理后的待检测芯片；将修复处理后的待检测芯片外部的安全外部引脚置为低电平，并通过安全启动电路检测修复处理后的待检测芯片的安全启动功能是否正常，若是则利用待检测芯片的CPU将安全启动电路的强制执行功能置为开启状态。通过本申请能够有效增加芯片的稳定性，有效提高芯片的安全性和灵活性。