一种用于激光诱导击穿光谱分析的标准样品制备标定装置
公开
摘要
本发明公开了一种用于激光诱导击穿光谱分析的标准样品制备标定装置，包括原位标定器、三维调节台、加热炉、激光发生机构、光谱分析机构、气压调节机构和样品制备机构；原位标定器设于三维调节台上；三维调节台用于调节原位标定器移动对位；加热炉包围于原位标定器外，加热炉用于对原位标定器加热；激光发生机构用于产生激光照射至原位标定器内；光谱分析机构用于从原位标定器内采集光谱进行分析；气压调节机构与原位标定器内部接通，气压调节机构用于调节原位标定器内的气压；样品制备机构用于在原位标定器内制备样品；即本发明将标准样品制备功能和LIBS标定功能结合在一个装置上，不仅实现了标准样品制备，并实现了原位标定和标准样品防污染。
基本信息
专利标题 ：
一种用于激光诱导击穿光谱分析的标准样品制备标定装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN114577577A
申请号 ：
CN202210346284.4
公开（公告）日 ：
2022-06-03
申请日 ：
2022-04-02
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
杨振邢宇博卢亮马伟邹丽平
申请人 ：
中山大学
申请人地址 ：
广东省广州市海珠区新港西路135号
代理机构 ：
深圳市创富知识产权代理有限公司
代理人 ：
高冰
优先权 ：
CN202210346284.4
主分类号 ：
G01N1/28
IPC分类号 ：
G01N1/28 G01N1/44 G01N21/71
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N1/00
取样；制备测试用的样品
G01N1/28
测试用样品的制备
法律状态
2022-06-03 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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