微米发光二极管检测系统及检测方法
实质审查的生效
摘要
本发明提出的一种微米发光二极管检测系统及检测方法，属于发光二极管检测领域，其中，系统包括第一光发生模块，用于发出第一光信号至多个待测微米发光二极管，以使多个待测微米发光二极管生成第二光信号；高光谱相机，所高光谱相机用于采集第二光信号，获得光谱成像帧，光谱成像帧中包括多个待测微米发光二极管的光谱数据；控制模块，与高光谱相机连接，用于基于光谱成像帧，从多个待测微米发光二极管中确定出缺陷微米发光二极管，其中，多个待测微米发光二极管，在接收到第一光信号中的光能后，激发自身以生成第二光信号。本发明实现同时准确对多个微米发光二极管进行检测，提高了在生产中对微米发光二极管的检测效率。
基本信息
专利标题 ：
微米发光二极管检测系统及检测方法
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN114441149A
申请号 ：
CN202210371679.X
公开（公告）日 ：
2022-05-06
申请日 ：
2022-04-11
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
汪伟毕海段江伟张赫铭柯链宝杨万里何兆铭
申请人 ：
季华实验室
申请人地址 ：
广东省佛山市南海区桂城街道环岛南路28号
代理机构 ：
深圳市世纪恒程知识产权代理事务所
代理人 ：
高川
优先权 ：
CN202210371679.X
主分类号 ：
G01M11/02
IPC分类号 ：
G01M11/02 G01R31/26
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01M
机器或结构部件的静或动平衡的测试；其他类目中不包括的结构部件或设备的测试
G01M11/02
•光学性质测试
法律状态
2022-05-24 ：
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01M 11/02
申请日 : 20220411
申请日 : 20220411
2022-05-06 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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