一种用于影像测量校正的方法和系统
实质审查的生效
摘要

一种用于影像测量校正的方法和系统,包括如下步骤:S1、将具有呈行列分布的多个标定点的标定板放置在影像测量仪载物台面上,将多个标定点的中心对称点与影像测量仪的坐标系的原点重合,并采集标定板上多个标定点的坐标数据;S2、根据多次以多个标定点的中心对称点为固定点旋转所述标定板和平移所述标定板,并在每次旋转所述标定板和平移所述标定板后采集所述多个标定点的坐标数据;S3、确定误差E构成,根据步骤S1和步骤S2的所述多个标定点的坐标数据基于最小二乘法计算所述测量仪的误差因子;通过多次旋转测量得到不同状态下的标定点的数据,通过对标定点的数据处理,将属于影像测量仪的那部分误差从误差中分离出来,使后续测量更为精确。

基本信息
专利标题 :
一种用于影像测量校正的方法和系统
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN114463422A
申请号 :
CN202210387332.4
公开(公告)日 :
2022-05-10
申请日 :
2022-04-14
授权号 :
暂无
授权日 :
暂无
发明人 :
甘中学景登科
申请人 :
北京深度奇点科技有限公司
申请人地址 :
北京市海淀区学研大厦B座709室
代理机构 :
北京星通盈泰知识产权代理有限公司
代理人 :
夏晶
优先权 :
CN202210387332.4
主分类号 :
G06T7/70
IPC分类号 :
G06T7/70  G06T7/80  G01B11/00  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G06
计算;推算或计数
G06T
一般的图像数据处理或产生
G06T7/10
分割;边缘检测
G06T7/70
确定物体或摄像机的姿态、方向
法律状态
2022-05-27 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : G06T 7/70
申请日 : 20220414
2022-05-10 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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