单相智慧用电保护器的IGBT开关损坏检测装置及检测方法
实质审查的生效
摘要
本发明涉及一种单相智慧用电保护器的IGBT开关损坏检测装置及检测方法，包括：多个IGBT开关组、第一吸收电路、第二吸收电路、IGBT电压检测单元、MCU控制单元及继电器控制单元，在一个IGBT开关组中，IGBT开关组包括IGBT开关单元及IGBT驱动电路，IGBT开关单元的输入端用于接入交流电的火线，IGBT开关单元的输出端分别与第二吸收电路的输入端和IGBT电压检测单元的一输入端电连接，第二吸收电路的输出端与IGBT电压检测单元电连接，并且IGBT电压检测单元还用于检测零线和火线之间的电压；第一吸收电路与IGBT开关单元并联连接，MCU控制单元还分别与IGBT电压检测单元、IGBT驱动电路和继电器控制单元电连接。本申请可以提高IGBT开关装置的检测能力，进而提高IGBT开关装置的可靠性。
基本信息
专利标题 ：
单相智慧用电保护器的IGBT开关损坏检测装置及检测方法
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN114509669A
申请号 ：
CN202210402727.7
公开（公告）日 ：
2022-05-17
申请日 ：
2022-04-18
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
桂斌李名银刘震张友华曾肖辉
申请人 ：
华邦创科（惠州市）智能科技有限公司
申请人地址 ：
广东省惠州市仲恺高新区惠风东三路12号
代理机构 ：
代理人 ：
优先权 ：
CN202210402727.7
主分类号 ：
G01R31/327
IPC分类号 ：
G01R31/327
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R31/327
•电路断续器、开关或电路断路器的测试
法律状态
2022-06-03 ：
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01R 31/327
申请日 : 20220418
申请日 : 20220418
2022-05-17 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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