设备驱动单元的测试方法及装置
公开
摘要
本发明涉及电子信息领域，具体公开了一种设备驱动单元的测试方法及装置。该方法包括：获取设备驱动单元响应于接收到的输入参数触发的寄存器读写指令；其中，设备驱动单元用于驱动包含预设寄存器的硬件设备，且寄存器读写指令用于针对预设寄存器执行读写操作；根据地址重映射方式，将寄存器读写指令重映射至虚拟寄存器；其中，虚拟寄存器通过内存实现，用于模拟预设寄存器；获取虚拟寄存器响应于寄存器读写指令的读写操作结果，将读写操作结果与对应于输入参数的标准读写结果进行匹配，根据匹配结果确定设备驱动单元的测试结果。
基本信息
专利标题 ：
设备驱动单元的测试方法及装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN114610557A
申请号 ：
CN202210508847.5
公开（公告）日 ：
2022-06-10
申请日 ：
2022-05-11
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
宇伟刘伟
申请人 ：
宏晶微电子科技股份有限公司
申请人地址 ：
安徽省合肥市高新区望江西路800号动漫基地B1楼9层北
代理机构 ：
北京天昊联合知识产权代理有限公司
代理人 ：
彭瑞欣
优先权 ：
CN202210508847.5
主分类号 ：
G06F11/26
IPC分类号 ：
G06F11/26 G05B23/02
IPC结构图谱
G
G部——物理
G06
计算；推算或计数
G06F
电数字数据处理
G06F11/00
错误检测；错误校正；监控
G06F11/22
在准备运算或者在空闲时间期间内，通过测试作故障硬件的检测或定位
G06F11/26
功能检验
法律状态
2022-06-10 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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