一种集成电路抗压能力检测装置
授权
摘要
本实用新型涉及集成电路技术领域，且公开了一种集成电路抗压能力检测装置，包括检测机构、除尘机构、缓冲机构、散热机构和限位机构，所述除尘机构位于检测机构的内部，所述缓冲机构位于检测机构的外部，所述散热机构位于检测机构的外部，所述限位机构位于检测机构的外部；所述检测机构包括检测台、检测座、压力传感器、支撑板、液压缸、传动杆、顶板和压板。该集成电路抗压能力检测装置，通过设置除尘扇叶，驱动电机可以带动传动轴转动，由此可以带动除尘扇叶转动，从而可以将集成电路板表面的灰尘吹散，通过设置缓冲弹簧和缓冲垫，可以在下压过程中，对集成电路板进行缓冲，防止压力过大将集成电路板压坏。
基本信息
专利标题 ：
一种集成电路抗压能力检测装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202220011210.0
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2022-01-04
授权号 ：
CN216646124U
授权日 ：
2022-05-31
发明人 ：
刘国军
申请人 ：
深圳凯瑞通电子有限公司
申请人地址 ：
广东省深圳市龙岗区吉华街道甘坑社区甘李二路8号华通大厦1204
代理机构 ：
深圳市鼎圣霏凡专利代理事务所(普通合伙)
代理人 ：
徐晶
优先权 ：
CN202220011210.0
主分类号 ：
G01N3/12
IPC分类号 ：
G01N3/12 G01N3/02 G01N1/34 H01L23/367 H01L23/473 B08B5/02 F16F15/067
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N3/12
•••压力试验
法律状态
2022-05-31 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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