一种对称度检具
授权
摘要
本实用新型涉及待测轴件的检测工具技术领域。公开了一种对称度检具，包括两个测量块，还包括用于夹持待测轴件的夹持部和两个导向块，导向块设置在夹持部上，且导向块上设置有刻度层，两个导向块的间距大于待测轴件的直径，且两个导向块平行；测量块与导向块滑动连接，且测量块的宽度小于键槽的宽度；两个测量块的间距小于待测轴件的直径。本方案主要解决现有技术对待测轴件上双键槽对称度的检测方式效率低下的问题。
基本信息
专利标题 ：
一种对称度检具
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202220230494.2
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2022-01-27
授权号 ：
CN216745897U
授权日 ：
2022-06-14
发明人 ：
黎梅任光华
申请人 ：
重庆市星极齿轮有限责任公司
申请人地址 ：
重庆市璧山区来凤街道来凤村一组
代理机构 ：
重庆强大凯创专利代理事务所(普通合伙)
代理人 ：
周欣
优先权 ：
CN202220230494.2
主分类号 ：
G01B5/252
IPC分类号 ：
G01B5/252
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01B
长度、厚度或类似线性尺寸的计量；角度的计量；面积的计量；不规则的表面或轮廓的计量
G01B5/00
以采用机械方法为特征的计量设备
G01B5/20
用于计量轮廓或曲率
G01B5/22
球径仪
G01B5/252
用于测量偏心度，即两个平行轴之间的横向偏移
法律状态
2022-06-14 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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