一种用于测量电极极高的装置
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摘要

一种用于测量电极极高的装置,其中:基准底座设有四个,均匀分布在装置底部;每个基准底座上均垂直安装有纵向导轨支柱;纵向导轨支柱上安装有滑块,滑块外侧设有导轨固定螺丝;纵向精密滚珠导轨设有两条,每条纵向精密滚珠导轨的两端分别插入一个滑块中,从而将纵向精密滚珠导轨安装在相邻的两个纵向导轨支柱之间,每条纵向精密滚珠导轨上均设有一个纵向精密滚珠导轨滑块;横向精密滚珠导轨的两端分别固定在两个纵向精密滚珠导轨滑块的上表面;横向精密滚珠导轨上安装有横向精密滚珠导轨滑块;横向精密滚珠导轨滑块上固定有数显高度尺,底部安装有测量基准圆盘的高度柱穿过数显高度尺内部。该装置具有测量结果准确、快捷方便、操作简单等特点。

基本信息
专利标题 :
一种用于测量电极极高的装置
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN202220462096.3
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2022-03-04
授权号 :
CN216745845U
授权日 :
2022-06-14
发明人 :
于晓光姚立广董国斌张世亮刘豫东文巍
申请人 :
沈阳中科惠友科技发展有限责任公司
申请人地址 :
辽宁省沈阳市沈河区文萃路83号
代理机构 :
沈阳晨创科技专利代理有限责任公司
代理人 :
张晨
优先权 :
CN202220462096.3
主分类号 :
G01B5/06
IPC分类号 :
G01B5/06  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01B
长度、厚度或类似线性尺寸的计量;角度的计量;面积的计量;不规则的表面或轮廓的计量
G01B5/00
以采用机械方法为特征的计量设备
G01B5/02
用于计量长度、宽度或厚度
G01B5/06
用于计量厚度
法律状态
2022-06-14 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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