色谱分析方法
专利权的终止未缴年费专利权终止
摘要
一种通过测量样品成分的保留时间来分析样品的色谱分析方法，在该方法中，根据存储的与各种填充剂有关的各种待分析物质成分的半宽和保留时间，显示与待分析物质成分和填充剂有关的图解色谱，从而确定适合使待分析物质分离的填充剂，选定的填充剂将被送入分离柱。这种色谱分析方法提高了色谱分析工作的效率和质量。
基本信息
专利标题 ：
色谱分析方法
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN85101444A
申请号 ：
CN85101444.5
公开（公告）日 ：
1987-01-17
申请日 ：
1985-04-01
授权号 ：
CN85101444B
授权日 ：
1987-01-14
发明人 ：
内野兴一浜野吉政
申请人 ：
株式会社日立制作所
申请人地址 ：
日本东京都千代田区神田骏河台四丁目6番地
代理机构 ：
中国国际贸易促进委员会专利代理部
代理人 ：
赵容民
优先权 ：
CN85101444.5
主分类号 ：
G01N30/02
IPC分类号 ：
G01N30/02
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N30/00
利用吸附作用、吸收作用或类似现象，或者利用离子交换，例如色谱法将材料分离成各个组分，来测试或分析材料
G01N30/02
柱色谱法
法律状态
1993-07-28 ：
专利权的终止未缴年费专利权终止
1987-07-29 ：
授权
1987-01-17 ：
公开
1987-01-14 ：
审定
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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1、
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