核磁共振断层分析仪
专利权的终止未缴年费专利权终止
摘要
本发明是关于一种磁共振断层分析的仪器，包括有三个线圈组，以产生一个与稳定均匀主磁场方向平行的磁场，此磁场是空间位置的函数，呈线性变化。此外，还有至少一个附加线圈组，它产生一个也与均匀磁场方向平行，但随空间位置呈线性变化的磁场。这些线圈组得到的总是一个满足下述要求的电流，即使这些线圈组产生的磁场与稳定磁场叠加，产生所预期的磁通密度随时间和空间的变化。因而可借助附加线圈组来降低涡流或其它误差造成的影响。
基本信息
专利标题 ：
核磁共振断层分析仪
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN85101661A
申请号 ：
CN85101661.8
公开（公告）日 ：
1987-01-24
申请日 ：
1985-04-01
授权号 ：
CN85101661B
授权日 ：
1988-11-30
发明人 ：
孔兹·迪特马
申请人 ：
菲利浦光灯制造公司
申请人地址 ：
荷兰艾恩德霍芬BA5621格罗恩伍尔德塞魏基1号
代理机构 ：
中国专利代理有限公司
代理人 ：
叶凯东
优先权 ：
CN85101661.8
主分类号 ：
G01N24/08
IPC分类号 ：
G01N24/08 G01N24/06
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N24/00
利用核磁共振、电子顺磁共振或其他自旋效应来测试或分析材料
G01N24/08
利用核磁共振
法律状态
1993-07-28 ：
专利权的终止未缴年费专利权终止
1989-09-27 ：
授权
1987-01-24 ：
公开
1986-10-01 ：
实质审查请求
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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