无损伤式荧光灯气体杂质检测仪
被视为撤回的申请
摘要
荧光灯气体杂质检测仪用于检测放电管、特别是荧光灯的气体杂质含量。检测仪设置了检测指示部分，温度补偿电路和杂质浓度显示器，能自动显示灯管杂质浓度与击穿放电阈值。检测器灵敏度高，检测杂质浓度范围是P杂/P总10-5～2×10-2，适用温度和压强范围宽(15～35℃和16～3.5乇)，所发明的检测仪既可用于检测单只荧光灯管，也可以利用本仪器寻找生产线的故障和生产的在线检测。
基本信息
专利标题 ：
无损伤式荧光灯气体杂质检测仪
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN85102703A
申请号 ：
CN85102703
公开（公告）日 ：
1986-09-24
申请日 ：
1985-04-01
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
关亚风邱长春唐学渊韩同生
申请人 ：
中国科学院大连化学物理研究所
申请人地址 ：
辽宁省大连市中山路161号
代理机构 ：
中国科学院大连化学物理研究所专利代理处
代理人 ：
汪惠民
优先权 ：
CN85102703
主分类号 ：
G01N27/70
IPC分类号 ：
G01N27/70
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N27/30
•••电极，例如测试电极；半电池
G01N27/60
通过测试静电变量
G01N27/68
利用放电使气体电离
G01N27/70
测量其电流或电压
法律状态
1988-10-19 ：
被视为撤回的申请
1986-09-24 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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