测量交流磁性的自校装置及方法
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摘要

测量交流磁性的自校装置及方法,是用标准互感线圈替代标准样品进行自校的,校准准确度为±0.5%。用于校准伏安法测量交流磁性的装置,还可用于校准交流磁性自动测量装置。对后者它所画出的校准曲线是一条通过原点,且与X轴夹角为45度的直线,观察其线性度即可得到被校装置的准确度。当电源通过磁通波形发生器供给校准装置时就可以模拟到通常遇到的各种畸变波形下,对上述的各种测量装置进行校准。

基本信息
专利标题 :
测量交流磁性的自校装置及方法
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN85103660A
申请号 :
CN85103660
公开(公告)日 :
1986-07-02
申请日 :
1985-05-19
授权号 :
CN85103660B
授权日 :
1987-11-04
发明人 :
刘兴民
申请人 :
陕西省计量测试研究所
申请人地址 :
陕西省西安市咸宁西路30号
代理机构 :
陕西省发明专利服务中心
代理人 :
赵继文
优先权 :
CN85103660
主分类号 :
G01R35/00
IPC分类号 :
G01R35/00  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01R
测量电变量;测量磁变量
G01R35/00
包含在本小类其他组中的仪器的测试或校准
法律状态
1988-05-18 :
授权
1987-11-04 :
审定
1986-07-02 :
公开
1986-06-10 :
实质审查请求
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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