高低温介电性能和电阻率测量用电极装置
专利权的终止专利权有效期届满
摘要
本发明是一种物理参数测量仪器的改进。本装置能与多种电桥或静电计配合，在-180℃到+250℃温度区内、在30Hz到100KHz的频率范围内和可控的气氛条件下进行介电常数、介电损耗和高电阻率的精密测量。它能有效地防止试样室温度变化和电磁感应对测量的干扰，制作又很方便。主要技术特征是采用金属结构的电极线引出器和密闭式的试样室套筒结构。这种引出器由紧接试样室(1)的热阻段(2)和装有电极装置出线端(4)的散热器形端块(3)构成。
基本信息
专利标题 ：
高低温介电性能和电阻率测量用电极装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN85203393.1
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
1985-08-16
授权号 ：
CN85203393U
授权日 ：
1986-05-07
发明人 ：
刘尚琪张贤徐懋
申请人 ：
中国科学院化学研究所
申请人地址 ：
北京市海淀区中关村
代理机构 ：
中国科学院专利事务所
代理人 ：
许淑芳
优先权 ：
CN85203393.1
主分类号 ：
G01R1/06
IPC分类号 ：
G01R1/06
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R1/00
包括在G01R5/00至G01R13/00或G01R31/00组中的各类仪器或装置的零部件
G01R1/02
一般结构零部件
G01R1/06
测量引线；测量探针
法律状态
1991-12-25 ：
专利权的终止专利权有效期届满
1986-11-19 ：
授权
1986-05-07 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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1、
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