沉积绝缘层的电学定标热释电探测器
专利权的终止
摘要
本实用新型公开了一种改进隔离绝缘层结构的电学定标热释电探测器,它是在热释电基片的满电极上用不同方法和材料沉积一层很薄的绝缘材料作绝缘层。这样使得隔离绝缘层对探测器热性能的影响减小到完全可以忽略,提高了电学定标热释电探测器的响应率与有效面积上的响应均匀性。
基本信息
专利标题 :
沉积绝缘层的电学定标热释电探测器
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN85205071.2
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
1985-11-13
授权号 :
CN85205071U
授权日 :
1987-06-03
发明人 :
巩嘉隆于月华
申请人 :
中国科学院上海技术物理研究所
申请人地址 :
上海市中山北一路420号
代理机构 :
中国科学院上海专利事务所
代理人 :
高毓秋
优先权 :
CN85205071.2
主分类号 :
G01J5/10
IPC分类号 :
G01J5/10
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01J
红外光、可见光、紫外光的强度、速度、光谱成分,偏振、相位或脉冲特性的测量;比色法;辐射高温测定法
G01J5/00
辐射高温测定法
G01J5/10
用电辐射检测器
法律状态
1990-05-23 :
专利权的终止
1987-12-16 :
授权
1987-06-03 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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