测量铝阳极氧化膜封闭质量的导纳仪
被视为撤回的申请
摘要
测量铝阳极氧化膜封闭质量的导纳仪。它由电解池、探头、振荡器、高电抗元件、放大器、带通滤波器、线性检波器、低通滤波器、数字显示器、除法器、测温电路、自动换算电路构成。本发明解决了模拟信号的线性化问题，实现了数字显示，提高了测量精度和分辨率，扩大了量程，方便了数据读取，实现了自动测温和自动换算，简化了试验步骤，节省了工时。
基本信息
专利标题 ：
测量铝阳极氧化膜封闭质量的导纳仪
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN86100248A
申请号 ：
CN86100248
公开（公告）日 ：
1986-09-03
申请日 ：
1986-01-10
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
张凤林王兴库
申请人 ：
机械工业部沈阳仪器仪表工艺研究所
申请人地址 ：
辽宁省沈阳市大东区珠林路2段2号
代理机构 ：
辽宁省科学技术情报研究所专利室
代理人 ：
张扬生
优先权 ：
CN86100248
主分类号 ：
G01N27/26
IPC分类号 ：
G01N27/26
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N27/18
••••由于被试环境物质的热传导变化引起的电阻
G01N27/26
通过测试电化学变量；用电解或电泳法
法律状态
1989-03-08 ：
被视为撤回的申请
1987-05-20 ：
实质审查请求
1986-09-03 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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1、
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