探查物体内部的装置
实质审查请求
摘要
本发明涉及由自校准式X射线发生器荧光检查法来检查被测物体的技术。被测物体的图像由荧光板转换为可见光。荧光板上的图像由多个相对于X射线发生器纵向或横向排列的图像传感器接收。接收完成后，这些图像传感器由一个扫描/驱动装置在对应于它们的宽度的横向(或纵向)方向上移动。这些图像传感器的扫描完成之后，每一图像传感器接收的图像被再生，并从再生的图像中作出物体的内部诊断。
基本信息
专利标题 ：
探查物体内部的装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN86100256A
申请号 ：
CN86100256
公开（公告）日 ：
1986-08-13
申请日 ：
1986-01-16
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
定村弘祥前田宏今义信福冈胜佐佐木幸司
申请人 ：
株式会社日立制作所
申请人地址 ：
日本东京都
代理机构 ：
中国国际贸易促进委员会专利代理部
代理人 ：
赵蓉民
优先权 ：
CN86100256
主分类号 ：
G01N23/04
IPC分类号 ：
G01N23/04
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N23/00
利用波或粒子辐射来测试或分析材料，例如未包括在G01N3/00-G01N17/00、G01N 21/00 或G01N 22/00中的X射线或中子
G01N23/02
通过使辐射透过材料
G01N23/04
并形成材料的图片
法律状态
1989-06-28 ：
实质审查请求
1987-10-21 ：
申请的撤回
1986-08-13 ：
公开
1986-07-02 ：
实质审查请求
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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1、
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