谷粒损伤分析器
被视为撤回的申请
摘要
一种谷粒损伤分析器利用长波长的紫外线辐射照亮一颗谷粒样品，使其损伤部分暴露的淀粉发出荧光，同时一个视频摄象机摄取该照亮的谷粒的图象。从该摄象机来的视频信号被转换成数字化的象素阵列。凡是超过某一预定光强门限值的象素的百分数或象素个数就代表被测样品的损伤程度。
基本信息
专利标题 ：
谷粒损伤分析器
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN86106220A
申请号 ：
CN86106220
公开（公告）日 ：
1987-03-18
申请日 ：
1986-09-11
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
劳伦斯·约瑟夫·布里兹吉斯丹尼尔·布雷德利·凯莱赫弗农·德尔伯特·班德洛
申请人 ：
迪尔公司
申请人地址 ：
美国伊利诺伊州莫林·约翰迪尔路
代理机构 ：
中国专利代理有限公司
代理人 ：
曹济洪
优先权 ：
CN86106220
主分类号 ：
G01N21/62
IPC分类号 ：
G01N21/62 G01N21/85 G01N21/88 G05B15/00 A01C1/06
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N21/00
利用光学手段，即利用亚毫米波、红外光、可见光或紫外光来测试或分析材料
G01N21/62
所测试的材料在其中被激发，因之引起材料发光或入射光的波长发生变化的系统
法律状态
1989-08-16 ：
被视为撤回的申请
1987-03-18 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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