π尺精度的模拟圆检测方法及装置
驳回申请决定
摘要
本发明提供了一种简单易行的检测π尺精度的方法和装置——模拟圆检测方法和装置。本发明的特点是将被测π尺展开成直线状态，与标尺重叠在一起进行比较，并模拟在圆上的读数方法，检测出π尺的任意示值，代替了标准圆检测π尺精度的方法。在常温下，达到高精度检测的目的。模拟圆检测π尺的装置结构简单，使用方便，成本低，精度高。
基本信息
专利标题 ：
π尺精度的模拟圆检测方法及装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN86106636A
申请号 ：
CN86106636
公开（公告）日 ：
1987-04-29
申请日 ：
1986-09-22
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
于若愚李延增于洪珍关成义
申请人 ：
沈阳市工具研究所
申请人地址 ：
辽宁省沈阳市沈河区三经街五段五里十九号
代理机构 ：
沈阳市专利事务所
代理人 ：
张宪恩
优先权 ：
CN86106636
主分类号 ：
G01B5/02
IPC分类号 ：
G01B5/02 G01B5/08
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01B
长度、厚度或类似线性尺寸的计量；角度的计量；面积的计量；不规则的表面或轮廓的计量
G01B5/00
以采用机械方法为特征的计量设备
G01B5/02
用于计量长度、宽度或厚度
法律状态
1988-11-23 ：
驳回申请决定
1987-10-07 ：
实质审查请求
1987-04-29 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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1、
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