用于狭缝辐射照相设备的辐射剂量计
专利权的终止未缴年费专利权终止
摘要
一种长方形电离辐射剂量计，包括一个由壳体包围的充气测量室，该壳体由两个形状大体相同的绝缘材料长方形框架所构成，两个框架密封地组装在一起。阳极丝设置在两框架之间的空隙平面上并由彼此相接触的框架部分所固定。至少一个框架设置有遍布框架整个长度的阴极并平行于阳极丝所处的平面。沿阴极边缘设置有保护电极，并隔一定的间隙包围着阴极。剂量计由电离辐射可穿透的材料制成，它特别适用于那类能沿狭缝长度任意调整局部缝宽的狭缝辐射照相设备。
基本信息
专利标题 ：
用于狭缝辐射照相设备的辐射剂量计
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN86108601A
申请号 ：
CN86108601.5
公开（公告）日 ：
1987-06-17
申请日 ：
1986-11-15
授权号 ：
CN1014934B
授权日 ：
1991-11-27
发明人 ：
夫拉斯布洛姆·胡格杜英克·希蒙
申请人 ：
老代尔夫特光学工业有限公司
申请人地址 ：
荷兰代尔夫特2612
代理机构 ：
中国国际贸易促进委员会专利代理部
代理人 ：
孙蜀宗
优先权 ：
CN86108601.5
主分类号 ：
G01T1/185
IPC分类号 ：
G01T1/185 G01T1/02 H01J47/02
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01T
核辐射或X射线辐射的测量
G01T1/00
X射线辐射、γ射线辐射、微粒子辐射或宇宙线辐射的测量
G01T1/16
辐射强度测量
G01T1/185
用电离室装置
法律状态
1998-01-07 ：
专利权的终止未缴年费专利权终止
1992-08-05 ：
授权
1991-11-27 ：
审定
1989-04-12 ：
实质审查请求
1987-06-17 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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