普通测微尺
专利权的终止
摘要
普通测微尺是一种机械计量检测精密测量的主要工具。本实用新型由普通百分尺经过结构改造，将尺转动、刻度、外形规格改变成普通能测微的精密尺。刻度每格读数为0.0025毫米，比百分尺提高4倍，实测物读值精确度提高八倍。能完成计微目的达到国际公差要求。特点：可测圆、方、长度及各种几何图形。
基本信息
专利标题 ：
普通测微尺
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN86201486.7
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
1986-03-01
授权号 ：
CN86201486U
授权日 ：
1987-04-08
发明人 ：
张世俊
申请人 ：
张世俊
申请人地址 ：
辽宁省鞍山市立山区曙光街八十三栋三号
代理机构 ：
代理人 ：
优先权 ：
CN86201486.7
主分类号 ：
G01B3/18
IPC分类号 ：
G01B3/18 G01B3/00
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01B
长度、厚度或类似线性尺寸的计量；角度的计量；面积的计量；不规则的表面或轮廓的计量
G01B3/1094
用于记录信息或执行计算
G01B3/18
千分尺
法律状态
1989-12-13 ：
专利权的终止
1987-10-21 ：
授权
1987-04-08 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
文件下载
1、
CN86201486U.PDF
PDF下载
