简便型微机磁栅数显高度测量仪
专利权的终止未缴纳年费专利权终止
摘要
简便型微机磁栅数显高度测量仪，是一种机械量的高度，直径和相隔物体的间距或间隙的计量测试仪器；本实用新型采用了与微机磁栅数显系统相结合配套的设计，外加一个已知尺寸的标准量规，省略了常见的手轮，微调和锁紧机构；可以恒速恒力矩机动测量，也可快速手动测量，还可用于测量曲线或圆弧的最高或最低点及它们的相对尺寸；可消除测量力对测量精度的影响，操作简便，具有较优的性能价格比。
基本信息
专利标题 ：
简便型微机磁栅数显高度测量仪
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN86202502.8
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
1986-04-18
授权号 ：
CN86202502U
授权日 ：
1987-07-08
发明人 ：
郁兴中吴雨林刘坚伟
申请人 ：
上海市机床研究所
申请人地址 ：
上海市淮安路681号
代理机构 ：
上海市专利律师事务所
代理人 ：
王赣生
优先权 ：
CN86202502.8
主分类号 ：
G01B21/16
IPC分类号 ：
G01B21/16 G01B21/00
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01B
长度、厚度或类似线性尺寸的计量；角度的计量；面积的计量；不规则的表面或轮廓的计量
G01B21/00
不适合于本小类其他组中所列的特定类型计量装置的计量设备或其零部件
G01B21/16
用于计量相隔的物体的间距或间隙
法律状态
1991-09-11 ：
专利权的终止未缴纳年费专利权终止
1988-01-20 ：
授权
1987-07-08 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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