相平衡熔点精密测定装置
被视为撤回的申请视为放弃取得专利权的权利
摘要
根据相平衡原理而设计了一种熔点精密测定装置，它是一种热分析仪表。主要以半导体热敏元件，直接测定试样固液两相平衡时的温度，即熔点。它克服了毛细法熔点仪的一些固有缺点，具有测定精度高(熔点200℃以下者，误差不大于0.1℃)，结构简单并可同时测定多个试样，此装置适于熔点在300℃以下化学物质的熔点或凝固点测定。
基本信息
专利标题 ：
相平衡熔点精密测定装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN87208429.9
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
1987-05-23
授权号 ：
CN87208429U
授权日 ：
1988-05-18
发明人 ：
潘国治
申请人 ：
国营庆阳化工厂
申请人地址 ：
111002辽宁省辽阳市十五号信箱
代理机构 ：
代理人 ：
优先权 ：
CN87208429.9
主分类号 ：
G01N25/04
IPC分类号 ：
G01N25/04
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N25/00
应用热方法测试或分析材料
G01N25/02
通过测试材料的状态或相的变化；通过测试烧结
G01N25/04
测试熔化点、凝固点、软化点
法律状态
1990-03-14 ：
被视为撤回的申请视为放弃取得专利权的权利
1988-05-18 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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