晶体管噪声成份分析与测试系统
专利权的终止未缴年费专利权终止
摘要
本发明涉及一种晶体管低频噪声成份分析测试方法和装置。特别是代有微型机处理的自动测试装置。该发明对用低频噪声来预测器件长期使用的可靠性，从而为晶体管的可靠性筛选，提供一种快速、无损、可靠的新方法。为此，该发明首次实现了低频噪声成份的准确而又定量的分析，为建立晶体管噪声理论、器件内在缺陷分析、可靠性筛选都具有开凿性的贡献。
基本信息
专利标题 ：
晶体管噪声成份分析与测试系统
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN1034275A
申请号 ：
CN88100045.0
公开（公告）日 ：
1989-07-26
申请日 ：
1988-01-11
授权号 ：
CN1018091B
授权日 ：
1992-09-02
发明人 ：
戴逸松张庆敏张新发张晓冬王树勋
申请人 ：
吉林工业大学
申请人地址 ：
吉林省长春市斯大林大街114号
代理机构 ：
国家机械工业委员会长春专利事务所
代理人 ：
胡景阳
优先权 ：
CN88100045.0
主分类号 ：
G01R31/26
IPC分类号 ：
G01R31/26
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R31/26
•单个半导体器件的测试
法律状态
1995-03-01 ：
专利权的终止未缴年费专利权终止
1993-05-12 ：
授权
1992-09-02 ：
审定
1989-09-27 ：
实质审查请求
1989-07-26 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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1、
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