紫外辐射照度计
视为撤回的专利申请
摘要
一种紫外辐射照度计，属于光学测试仪器。其特征是由两个单向截止光学滤光片和两个相同的光电接收器构成双光路探测器，电路部分采用双路放大，从而能够准确地测出所需测试波段的辐射量值，杂散光截止性很强：对C波段紫外辐射照度计而言，其杂散辐射截止能力优于10-7。另外，通过改变两块截止滤光片的截止波长，可制成从紫外到可见、红外各种波段和各种通带宽度的辐射照度计。
基本信息
专利标题 ：
紫外辐射照度计
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN88102056A
申请号 ：
CN88102056.7
公开（公告）日 ：
1988-09-28
申请日 ：
1988-04-19
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
华树明朱喜平吴福瑜王晓英杨征胡宁
申请人 ：
北京电光源研究所
申请人地址 ：
北京市朝外呼家楼
代理机构 ：
代理人 ：
优先权 ：
CN88102056.7
主分类号 ：
G01J1/42
IPC分类号 ：
G01J1/42 G01J1/44
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01J
红外光、可见光、紫外光的强度、速度、光谱成分，偏振、相位或脉冲特性的测量；比色法；辐射高温测定法
G01J1/00
光度测定法，例如照相的曝光表
G01J1/42
采用电辐射检测器
法律状态
1992-01-15 ：
视为撤回的专利申请
1989-08-16 ：
发明专利公报更正
卷 : 4 号 : 39 页码 : 34 更正项目 : 代理机构 误 : 无代理机构|代理人 正 : 北京市第一轻工业总公司专利事务所
1989-08-16 ：
发明专利公报更正
卷 : 4 号 : 39 页码 : 34 更正项目 : 无 误 : 吴福瑜 正 : 吴初瑜
1989-05-31 ：
实质审查请求
1988-09-28 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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