密度校正方法及装置
专利权的终止未缴年费专利权终止
摘要
一种校正实测密度的方法，包括以下步骤：用一台处于校正状态的密度计测量标准密度的高和低的密度以得出它们的实测值；根据所述密度的实测值和已知值之间的差给出用于零点修正的数据；将该数据存入存储器；利用从存储器该出的该数据以校正物体的实测密度。为了提供该数据，预先要把已知的标准密度输入密度计。实施这种校正方法的密度计结构紧凑而又便于携带。它包括一个其中装配有诸如光投射元件、光接收元件和参考光检测元件等测量元件的壳体。
基本信息
专利标题 ：
密度校正方法及装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN1030980A
申请号 ：
CN88103593.9
公开（公告）日 ：
1989-02-08
申请日 ：
1988-05-06
授权号 ：
CN1014471B
授权日 ：
1991-10-23
发明人 ：
小松资明佐藤繁雄
申请人 ：
富士胶片公司
申请人地址 ：
日本神奈川县
代理机构 ：
中国专利代理有限公司
代理人 ：
叶凯东
优先权 ：
CN88103593.9
主分类号 ：
G03C5/02
IPC分类号 ：
G03C5/02
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G03
摄影术；电影术；利用了光波以外其他波的类似技术；电记录术；全息摄影术
G03C
照相用的感光材料；照相过程，例如，电影、X射线、彩色、或者立体照相过程；照相的辅助过程
G03C5/00
照相过程或相应的药剂；这种加工药剂的再生
G03C5/02
感光度测定的工艺过程，例如，测定光敏度、色敏度、反差、粒度、密度；形成感光度的光楔
法律状态
2006-07-05 ：
专利权的终止未缴年费专利权终止
2002-04-24 ：
其他有关事项
1992-07-08 ：
授权
1991-10-23 ：
审定
1990-08-29 ：
实质审查请求
1989-02-08 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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1、
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