测量光纤和光学系统偏振消光比的方法与装置
专利权的终止未缴年费专利权终止
摘要
一种测量光纤和光学系统偏振消光比的方法和装置，采用偏振棱镜输出有一定分束角的两种直线偏振光；由两个光电探测器同时监测这两种直线偏振光的光强，然后馈入除法器，转动偏振棱镜测出由除法器输出的信号极值，通过计算求出被测的偏振消光比。相应的检测装置是由光源、光束耦合器、偏振棱镜、光电探测器和除法器等所组成。偏振梭镜既是检偏器又是分束器，借以进行双光路检测。
基本信息
专利标题 ：
测量光纤和光学系统偏振消光比的方法与装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN1042606A
申请号 ：
CN88107782.8
公开（公告）日 ：
1990-05-30
申请日 ：
1988-11-10
授权号 ：
CN1016280B
授权日 ：
1992-04-15
发明人 ：
盛列义徐森禄朱列伟
申请人 ：
盛列义
申请人地址 ：
浙江省杭州市玉泉浙江大学光仪系
代理机构 ：
浙江大学专利代理事务所
代理人 ：
陈文斌
优先权 ：
CN88107782.8
主分类号 ：
G01N21/21
IPC分类号 ：
G01N21/21 G01M11/02
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N21/00
利用光学手段，即利用亚毫米波、红外光、可见光或紫外光来测试或分析材料
G01N21/17
入射光根据所测试的材料性质而改变的系统
G01N21/21
影响偏振的性质
法律状态
1994-12-21 ：
专利权的终止未缴年费专利权终止
1992-12-09 ：
授权
1992-04-15 ：
审定
1990-05-30 ：
公开
1989-07-05 ：
实质审查请求
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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