单坐标光栅数显表
专利权的终止专利权有效期届满
摘要
这是一种用于位移测量的仪器，它采用光栅位移传感器对加工工件进行测量，当工件发生位移，光栅位移传感器输出脉冲信号，送可编程计数器进行计数，微处理器定时向计数器读取计数值，处理后的数值经驱动器送显示器给出，采用动态扫描方式。该数显表由于采用了微处理器等大规模集成电路，使得电路简化，元件大量减少，具有位移分辨率高，位移跟踪速度高，抗干扰能力强，功耗低等优点。
基本信息
专利标题 ：
单坐标光栅数显表
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN88207846.1
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
1988-06-30
授权号 ：
CN2039014U
授权日 ：
1989-06-07
发明人 ：
金喜平刘玉庆杨怀国
申请人 ：
沈阳工业大学
申请人地址 ：
辽宁省沈阳市铁西区沈阳工业大学
代理机构 ：
辽宁专利事务所
代理人 ：
许宗富
优先权 ：
CN88207846.1
主分类号 ：
G01B11/02
IPC分类号 ：
G01B11/02
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01B
长度、厚度或类似线性尺寸的计量；角度的计量；面积的计量；不规则的表面或轮廓的计量
G01B11/00
以采用光学方法为特征的计量设备
G01B11/02
用于计量长度、宽度或厚度
法律状态
1993-11-17 ：
专利权的终止专利权有效期届满
1990-02-21 ：
授权
1989-06-07 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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