电子元器件动态可靠性监测装置
专利权的终止未缴年费专利权终止
摘要
一种电子元器件动态可靠性监测装置，属于电信号检测技术。包括电源(5)、加电调节单元(1)、可靠性信息接收单元(2)、记忆单元(3)和显示单元(4)、以及用以与元器件夹具和计算机系统相联结的插座(6)和(7)。由于本实用新型能监测电子元器件动态测试全过程可靠性信息，使对电子元器件可靠性评价更接近吻合使用现场。
基本信息
专利标题 ：
电子元器件动态可靠性监测装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN88211491.3
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
1988-03-07
授权号 ：
CN88211491U
授权日 ：
1988-12-28
发明人 ：
邰庚年
申请人 ：
邰庚年
申请人地址 ：
江苏省苏州市南门新市路3号苏州半导体总厂
代理机构 ：
中国科学院上海专利事务所
代理人 ：
谢晋光
优先权 ：
CN88211491.3
主分类号 ：
G01R31/00
IPC分类号 ：
G01R31/00
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R31/00
电性能的测试装置；电故障的探测装置；以所进行的测试在其他位置未提供为特征的电测试装置；在制造过程中测试或测量半导体或固体器件入H01L21/66；线路传输系统的测试入H04B3/46）
法律状态
1993-06-30 ：
专利权的终止未缴年费专利权终止
1989-10-25 ：
授权
1988-12-28 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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