孔径与孔间距综合测量卡尺
专利权的终止未缴纳年费专利权终止
摘要
本实用新型提供了一种孔径与孔间距综合测量卡尺。它集圆孔用量规和游标卡尺一体，并改进了各自结构的测量工具。它在一次测量时即可同时达到检验孔径是否满足规定的偏差要求并精确测量孔间距这两个目的。该测量卡尺是由主标尺、游标尺、具有止端、卡端与通端组合而成的两个测量头具、固定螺栓、推拉头所构成。该测量卡尺操作简单，使用方便，工作效率高，且测得的孔间距精度高。适用于检验孔径和测量孔间距。
基本信息
专利标题 ：
孔径与孔间距综合测量卡尺
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN88213118.4
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
1988-09-14
授权号 ：
CN2037059U
授权日 ：
1989-05-03
发明人 ：
魏超平
申请人 ：
魏超平
申请人地址 ：
浙江省杭州市体育场路119号
代理机构 ：
代理人 ：
优先权 ：
CN88213118.4
主分类号 ：
G01B3/18
IPC分类号 ：
G01B3/18
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01B
长度、厚度或类似线性尺寸的计量；角度的计量；面积的计量；不规则的表面或轮廓的计量
G01B3/1094
用于记录信息或执行计算
G01B3/18
千分尺
法律状态
1991-02-13 ：
专利权的终止未缴纳年费专利权终止
1990-02-07 ：
授权
1989-05-03 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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