带有定位副尺的外径千分尺
专利权的终止未缴纳年费专利权终止
摘要
用普通的外径千分尺测量工件的直径时，为了确保能卡在工件的直径上，需要细心操作，并且常常需要重复操作，还容易被工件撑坏千分尺。本实用新型可以解决上述问题。它在普通千分尺的尺架上增加了一个定位副尺，利用该副尺的定位作用，可以使千分尺方便而准确地卡在工件的直径上，从而避免重复测量和撑坏千分尺，大大地提高测量效率，这种千分尺特别适合于批量产品的检测。
基本信息
专利标题 ：
带有定位副尺的外径千分尺
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN88215025.1
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
1988-10-12
授权号 ：
CN2035455U
授权日 ：
1989-04-05
发明人 ：
梁助兴高慧芳
申请人 ：
梁助兴;高慧芳
申请人地址 ：
河北省石家庄市中山中路99号
代理机构 ：
代理人 ：
优先权 ：
CN88215025.1
主分类号 ：
G01B3/18
IPC分类号 ：
G01B3/18
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01B
长度、厚度或类似线性尺寸的计量；角度的计量；面积的计量；不规则的表面或轮廓的计量
G01B3/1094
用于记录信息或执行计算
G01B3/18
千分尺
法律状态
1992-02-05 ：
专利权的终止未缴纳年费专利权终止
1989-12-20 ：
授权
1989-04-05 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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1、
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