十进精密电容损耗箱
专利权的终止未缴纳年费专利权终止
摘要
本实用新型属于电容损耗检测仪器。原有的电容损耗箱只采用标准电容(箱)和标准电阻串联等效线路组成。引线长，引线位置不固定，操作不方便，测量结果误差较大。本实用新型采用串联三组精密交流电阻、每组由十只精密交流电阻串联，使用换挡开关换挡，使得能进行十进读数。再引进补偿电容C1、C2和补偿电阻R，C1、C2、R呈Y连接，可使残值D。达到5×10-5以下，从而使操作简便，结果准确。
基本信息
专利标题 ：
十进精密电容损耗箱
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN88217512.2
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
1988-09-19
授权号 ：
CN2039854U
授权日 ：
1989-06-21
发明人 ：
赵汉立吕志荣
申请人 ：
无锡电容器厂
申请人地址 ：
江苏省无锡市广瑞路13号
代理机构 ：
代理人 ：
优先权 ：
CN88217512.2
主分类号 ：
G01R27/26
IPC分类号 ：
G01R27/26
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R27/00
测量电阻、电抗、阻抗或其派生特性的装置
G01R27/02
电阻、电抗、阻抗或其派生的其他两端特性，例如时间常数的实值或复值测量
G01R27/26
电感或电容的测量；品质因数的测量，例如通过应用谐振法；损失因数的测量；介电常数的测量
法律状态
1992-01-08 ：
专利权的终止未缴纳年费专利权终止
1990-03-07 ：
授权
1989-06-21 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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