多功能微分电位溶出仪
专利权的终止未缴年费专利权终止
摘要
多功能徽分电位溶出仪，采用二阶乃至三阶微分电位溶出分析理论研制而成，仪器由恒电位器、高输入阻抗放大器，微分放大器，绝对值放大器、倒数运算器，时序电路，电位记录范围控制器，恒流源，末级输出放大等单元电路组成，并设置了二阶徽分电路部分(D2pSA)乃至三阶微分电路部分(D3pSA)，使仪器的灵敏度大大提高，具有多种功能，可进行常规pSA，恒电流电位溶出分析，一阶、二阶、三阶微分电位溶出分析等，能广泛地应用于地质、冶金、环保、食品加工及医药卫生等部分对某些物料中徽、痕量元素的测定。
基本信息
专利标题 ：
多功能微分电位溶出仪
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN1041039A
申请号 ：
CN89105898.2
公开（公告）日 ：
1990-04-04
申请日 ：
1989-04-23
授权号 ：
CN1012529B
授权日 ：
1991-05-01
发明人 ：
郭学文
申请人 ：
四川省地质矿产局二○七地质队
申请人地址 ：
四川省乐山市市中区人民西路1号
代理机构 ：
乐山市专利事务所
代理人 ：
叶建民
优先权 ：
CN89105898.2
主分类号 ：
G01N27/26
IPC分类号 ：
G01N27/26
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N27/18
••••由于被试环境物质的热传导变化引起的电阻
G01N27/26
通过测试电化学变量；用电解或电泳法
法律状态
1993-08-11 ：
专利权的终止未缴年费专利权终止
1992-01-15 ：
授权
1991-05-01 ：
审定
1990-08-29 ：
实质审查请求
1990-04-04 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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1、
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