透镜表面的质量检测
专利申请的视为撤回
摘要

本发明涉及透镜表面的质量检测方法,包括把波长200毫微米到2000毫微米的基本准直电磁辐射束投射到透镜表面上,测量透镜表面反射的镜面反射光的强度。电磁辐射束较好是接近电磁波谱的紫外、可见光或近红外部分的激光束。该测量方法可在激光辐射透镜的激光抛光过程中完成。

基本信息
专利标题 :
透镜表面的质量检测
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN1042777A
申请号 :
CN89108156.9
公开(公告)日 :
1990-06-06
申请日 :
1989-10-25
授权号 :
暂无
授权日 :
暂无
发明人 :
詹姆斯·杰拉德·伦尼文森特·麦克布里尔蒂
申请人 :
博士伦百慕达科技有限公司
申请人地址 :
爱尔兰百慕达·汉密尔顿
代理机构 :
中国专利代理有限公司
代理人 :
马铁良
优先权 :
CN89108156.9
主分类号 :
G01M11/02
IPC分类号 :
G01M11/02  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01M
机器或结构部件的静或动平衡的测试;其他类目中不包括的结构部件或设备的测试
G01M11/02
•光学性质测试
法律状态
1993-07-21 :
专利申请的视为撤回
1992-01-22 :
实质审查请求已生效的专利申请
1990-06-06 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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