发光分析装置
专利权的终止未缴年费专利权终止
摘要
一种发光分析装置，其特征在于，把每次发光分为高能量激发和与之连续的低能量激发；使用光电倍增管作为受光元件；由一个开关电路来控制所述各光电倍增管的电极电压的通、断，至少在高能量激发中切断所述光电倍增管电极的电压并在低能量激发中把电压加到光电倍增管的电极上，具有背景噪声小、灵敏度高、价格低廉和电路构成简单的优点。
基本信息
专利标题 ：
发光分析装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN1047923A
申请号 ：
CN89108991.8
公开（公告）日 ：
1990-12-19
申请日 ：
1989-11-29
授权号 ：
CN1027520C
授权日 ：
1995-01-25
发明人 ：
福井勋林修三
申请人 ：
株式会社岛津制作所
申请人地址 ：
日本国京都市
代理机构 ：
上海专利商标事务所
代理人 ：
颜承根
优先权 ：
CN89108991.8
主分类号 ：
G01N21/62
IPC分类号 ：
G01N21/62
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N21/00
利用光学手段，即利用亚毫米波、红外光、可见光或紫外光来测试或分析材料
G01N21/62
所测试的材料在其中被激发，因之引起材料发光或入射光的波长发生变化的系统
法律状态
2004-01-28 ：
专利权的终止未缴年费专利权终止
2002-04-24 ：
其他有关事项
1995-01-25 ：
授权
1990-12-19 ：
公开
1990-05-09 ：
实质审查请求
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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